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SGD-2 單光子計數實驗系統該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術，具有較高的線性動態范圍。輸出的數字信號...

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉技術相結合的一種現代光測技術。激光的高相...

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的應用領域。實驗內容1、拍攝自由空間散斑和...

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試、距離、速度測試、物體內在缺陷和振動分析...

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm功率激光管和進口高傳輸性光纖，通過精密光學分束機構分至七束光纖，每束光纖長度為4米，ZUI多為七臺邁氏干涉儀提供擴束光源。

SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀$n導軌：鋁制導軌，長1000mm$n光源：半導體激光器，鈉燈或白光光源可選$n狹縫：0-2mm可調，帶二維調節$n測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8cm$n像屏：白色像屏

WPZ-III塞曼效應實驗儀（智能型）1、永磁鐵磁感應強度B＞1.0T，以實際測定為準2、F-P標準具通光口徑φ40mm空氣隙石英間隙2 mm中心波長546.1nm.分辨能力λ/ dλ≥2&#...

WGZ-IIA光強分布測定儀單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.1.導...

JCD3讀數顯微鏡$n產品簡介$n可作長度測量，也可作觀察使用。可置水平和垂直位置，能搭成各種測試裝置。$n產品配置$n主要技術指標要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離54.06mm，視場直徑4...

WSM100/200邁克爾遜干涉儀產品簡介觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象產品配置1、移動鏡行程：W...